半導体テストサービス Semiconductor TaaS


半導体テストを実現するサービスをご提供します

Test Target 検査対象

ペリテックが提供する半導体テストサービスはDUTに合わせた自由度の高いテストシステムの早期構築が可能です。また、様々な半導体を対象としたテストの開発を行います。

IC,光半導体,ディスクリート,センサ

IC(集積回路)

  • メモリ
  • マイコン
  • ロジックIC
  • アナログIC

光半導体

  • LED
  • フォトダイオード
  • フォトトランジスタ
  • フォトカプラ

ディスクリート

  • ダイオード
  • トランジスタ
  • サイリスタ
  • モジュール

センサ

  • 圧力センサ
  • 温度センサ
  • 加速度センサ
  • 磁気センサ

Test Process テストプロセス

製品開発におけるマニュアルテストから量産工程における自動テストまで、幅広く適用することを視野に入れたプラットフォームを準備しております。
迅速に開発するためのテスト管理ソフトウェアとハードウェアのシステム全体を構築します。

テストプロセス

Service サービス

計測・テストに特化したグラフィカルプログラミング言語である「NI LabVIEW」を使用して 提案・設計から開発・導入まで一括したサービスを提供できます。ハードウェアとソフトウェアを組み合わせたシステム構築からアフターサポートまで行っております。

  • 検査ジグ
  • I/F回路
  • ケーブル配線
  • 検査ソフト
  • オペレータトレーニング
  • メンテナンス
半導体テストシステム
半導体テストシステム

Combination/Control 制御と連携

モジュール式計測器であるPXIシステムを採用することにより、再利用可能な柔軟性の高いテストシステムを開発することができます。
ハンドラやプローバと連携させるテストシステムを構築します。恒温槽など他社の製品と組み合わせたシステム構築も可能です。

制御と連携

カタログ

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