既存装置と同等の機能・検査速度の低電圧ICテスタをNI社製品とLabVIEWで開発
低価格化を目指した3V電源対応テスタ
クライアント名・業種：電子部品メーカー 様
導入システム・製品：3V源対応テスタ
ご依頼の背景
ある電子部品メーカー様より、現在稼働しているICテスタよりも安価で、かつ同等の性能の製品を開発してほしいというご要望をいただきました。詳しくお話を聞くと、3V電源のICテスタであるTTLレベル以外のデジタル信号制御が必要であることが判明。検討した結果、NI製品を使用することで実現可能なことがわかり、開発がスタートしました。
導入前の課題と当社から提供したソリューション
既存設備と同等の検査時間を達成
課題
開発の最も大きなポイントは、ICテスタとしての機能だけでなく検査時間も既存の装置と同等でなくはいけない、という点。これが達成できなければ、低コストであっても導入はできないという条件がりました。
ソリューション
一番の問題であった端子ダイオードと端子ショートの検査時間を、NI社製品を組み合わせることによってクリア。予想されていた30秒という時間を、最終的には1秒程度まで大きく短縮し、既存装置と同等の検査時間を達成しました。
同機能・同性能でありながら低コスト化
課題
現在、工場で稼働しているICテスタは数千万円するために追加購入ができない、というのが客先のお悩みでした。そのため、NI社製品を使用し低価格化が実現できないかを検討する必要がありました。
ソリューション
NI社製品を使用したことによって、お客様のど要望通り、現在使用されているICテスタの約1／10の価格が最終的には実現できました。なお、NI TestStandとLabVIEWによる短期間なソフトウェア構築もこれに大きく寄与しています。
NI社製品とLabVIEWで開発期間を短縮
課題
ICテスタの開発に関わるソフトウェア構築は納期が短く、1カ月で完成させなくてはなりませんでした。この期間短縮を実現するためには、NI社製品とLabVIEWを最大限活用する必要がありました。
ソリューション
NI TestStandとLabVIEWの使用により、開発期間の短縮化に成功。1カ月という納期にも間に合い、スケジュール通りの納品を行うことができました。
導入効果のまとめ
客先のご要望を実現
同性能でありながら低コスト化
開発期間を短縮で短納期に対応
本件のような低電圧ICの制御に関わるプロダクトは、今後ますます需要が増えると予想されます。NI社製品であれば、そうしたニーズに柔軟な対応ができ、低価格化も実現可能。また、NI TestStandとLabVIEWは開発期間の短縮だけでなく、検査規格の変更や項目の追加、新型ICの検査ソフト開発といった隙にも大いに役立ち、コスト削減へ貢献するということがあらためて立証された事例と言えます。
システム概要
- NI PXl-6551：ヂ撃タルパターン I/O
- NI PXl-6281：マルチファンクションDAQ
- NI PXl-4461：音響・振動解析用DAQ
- NI PXl-6602：カウンタ
- NI PXl-6508：デジタル I/O
備考
本件は、2個同時試験が必要となるため、スイッチ、デジタルマルチメータ、音響・振動解析用DAQの各ボードを複数枚搭載。また、NITestStandのマルチスレッド機能を使用し、2個あるいはどちらか片方の試験を行う場合は、上位ハンドラからの指示をソフトウェアが認識して試験を実行し、合否判定結果を返すよう構成されています
