日本にはない独自の検査システムをクライアント・パートナーとの協力で開発


国内の応答周波数特性に合わせたRFIDシステム

クライアント名・業種:凸版印刷株式会社 様

導入システム・製品:RFIDシステム

ご依頼の背景

ICカードや流通、トレーサビリティの用途で普及しているRFID技術。これを開発・測定するシステムが見つからない、という課題をいただきました。当社でも実績がありませんでしたが、相談したNI社からRFIDテストシステムのノウハウを持ったViServiceNetwork社(VISN社)との提携を提案されました。同社の技術力を借りることで当社のRFID分野におけるソリューション提供が可能になると確信し、凸版印刷様のご協力の下でプロジェクトをスタートさせました。

RFIDテスタ

導入前の課題と当社から提供したソリューション

RFID技術に関わる海外パートナーの発掘

海外パートナー

課題

日本国内においてRFID技術の開発・測定システムを取り扱う企業がなかったのが第一の課題でした。当社の幅広い実績の中にも含まれていなかっただけに、自社のみでは解決するのが困難だったという状況がありました。

ソリューション

NI社からのアドバイスによって、当社は中国でRFIDテストツールキットを提供するVISN社という頼もしいパートナーを得ました。NI社と当社が強いアライアンスで結ばれていたことが、プロジェクトを推進する後押しとなったのです。

周波数特性検査時聞の短縮化に成功

周波数特性検査時聞の短縮

課題

VISN社のRFIDテスタツールキットは日本向けにローカライズされておらず、タグの応答周波数特性について見直す必要がありました。また、日本の極端に狭いUHF帯の領域にマッチさせるうえで、検査には長い時間がかかっていました。

ソリューション

ソフトウェア対応での検査時間短掃は不可能ということがわかり、IF帯の処理をLabVIEWで構築したFPGAで行うことにしました。これにより、従来は1日以上かかっていた検査が数十秒で完了。開発スピードの短縮とコスト削減が実現しています。

LabVIEWにより「ヌル点」の解決方法が明らかに

ヌル点

課題

UHF帯のRFIDタグには、位置や周波数によって読み込みができない「ヌル点」と呼ばれる現象があります。これは2.45Ghz帯でもよく起こる現象であり、ヌル点でのデコードを行うこと力℃できない、という問題がありました。

ソリューション

凸版印刷のご担当者様が短期間でLabVIEWを習得したことにより、問題解決のご提案をいただけるようになりました。これがヒントとなり、不可能と言われていたヌル点でのデコード処理が可能に。VISN社のツールキットにもこの機能が追加されています。

 

導入効果のまとめ

国内におけるRFID技術の進展

検査時間の大幅な短縮化

ヌル点問題の解決

難解なRFIDテストシステム構築は、LabVIEWの使用によって短期間の内に解決策の導きだされました。これは凸版印刷社、VISN社、当社の連携によってもたらされた成果であり、できあがったシステムは非常に強力で、今後も進化し続けるでしよう。また、独自システムの開発や検査時間の短縮、開発時間の削減にはNI社製品の活用が大きな役割を果たしたと言えます。

システム概要

  • NI PXI-5610:2.7 GHz アップコンバータ(NI製ベクトル RF モジュール)
  • NI PXI-5600:2.7GHz ダウンコンバータ
  • NI PCI-5640R IF-RIO:FPGA ベースの IF トランシーバ

備考

ソフトウェアにはLabVIEW および RF 計測ツールキットを使用
RF 計測ツールキットには以下が含まれます

  • スペクトラム計測ツールキット
  • 上級信号処理ツールキット
  • LabVIEW FPGA モジュール